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扩散技术在平面的有效测量--测量显微镜系统

发布时间: 2014-9-16 9:32:53 发布人: Z发布   下一篇:二极管激光器的光谱仪器测试显微镜的配置 上一篇:两维和三维图像的效果--偏振显微镜的测量效果

扩散技术在平面的有效测量--测量系统

    测定扩散的技术需要参考平面的精确照
度与响应度的校准,它是很难预测到有
效测量的平面,

    位于与圆顶形的扩散器常常在商业光度
和辐射计使用。这个平面的知识不足,可
能导致在光度计的照度与响应
度校准了大的系统误差。

    我们建议可以用来精确地确定该基准的
平面,基于所测量的信号和从源之间的
距离的平方反比律的方法。

    该方法被证明具有三个商业光度计的技
术,具有不同几何形状的圆顶形状的扩散器。

    通过考虑到参照平面的测量位移,我们
减少了显微镜系统的测量误差最多为2%,
以统计不确定性分量中0.2%的水平。
出自:上海光学仪器厂体视显微镜专栏,本文辽宁11选5:http://sanshatrip.com/zn/1460.html  
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